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微同軸屏蔽效能測試裝置

]資料
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產(chǎn)品名稱: 微同軸屏蔽效能測試裝置
產(chǎn)品型號: HDS-18A
產(chǎn)品展商: 華瑞高(horigol)
產(chǎn)品文檔: 無相關文檔


簡單介紹
微同軸屏蔽效能測試裝置HDS-18A適用于導電薄膜、薄型織物、金屬薄板、含導電涂覆層或鍍層的薄型電磁屏蔽材料的平面波屏蔽效能的測量,目前暫無標準與之對應,微同軸屏蔽效能測試裝置的測試原理同ASTM 4935-2010 規(guī)定的測試裝置。

微同軸屏蔽效能測試裝置

的詳細介紹

HDS-18A微同軸屏蔽效能測試裝置是在ASTM 4935-2010標準的基礎上進行改進的微波頻段測試夾具,超精密加工的微同軸部件在測試頻率范圍內(nèi)具有很小的駐波比和插入損耗,有效保證測試結果的真實性與準確性,測試裝置核心夾具采用不銹鋼加工,中心微導體采用鍍金工藝處理,保證良好性能的同時具備美觀耐用性。

技術參數(shù):

1. 測試頻率范圍:1GHz~18GHz,(可在10MHz~18GHz內(nèi)使用)

2. 醉大駐波比(VSWR):<1.2(1GHz~18GHz)

3. 插入損耗:<1.5dB(1GHz~18GHz)

4. 外形尺寸:260mm×160×200mm(H×W×D)

5. 重量:2kg

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